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塔瑪薩崎Otsuka大塚光譜儀

多功能多通道光譜探測器，支持從紫外到近紅外區域。光譜測量可在 5 毫秒內進行。標準儀器的光纖支持各種測量系統，無需識別樣品類型。除了顯微分光、光源發射、透射和反射測量外，它還與軟件相結合，支持物體顏色評估和薄膜厚度測量。
塔瑪薩崎Otsuka大塚厚度計

在晶圓等研磨和拋光過程中，我們以超高速和高精度測量晶圓和樹脂的厚度。
塔瑪薩崎Otsuka大塚光譜儀

除了能夠進行高精度薄膜分析的光譜橢圓測量外，我們還通過安裝測量角度的自動可變機制，支持各種薄膜。除了傳統的旋轉分析儀方法外，還通過設置緩速板的自動解吸機制，提高了測量精度。
塔瑪薩崎Otsuka大塚測量儀器

我們的 MCPD 系列內聯薄膜評估系統采用光學類型，可在非接觸式和無損條件下檢測薄膜厚度、濃度和顏色。可測量薄膜厚度范圍為 65nm 至 92μm，從薄膜到厚膜。（折射率為1.5時）測量原理為分光干涉方式，在實現高測量再現性的同時，還支持多層厚度測量。由于采用專有算法可實現高速實時監控，因此我們提出了*適合在線膠片監視器的系統。
塔瑪薩崎Otsuka大塚膜厚儀

我們的 MCPD 系列采用柔性光纖，可集成到從原位到內聯的各種位置和應用。由于測量原理采用光譜干涉系統，因此在實現高測量可重復性的同時，還支持多層厚度測量。采用專有算法，可實現高速實時監控。
塔瑪薩崎Otsuka大塚

OPTM（Optim）是一種利用顯微分光在微區域進行**反射率測量，可實現高精度薄膜厚度和光學常數分析的裝置。涂層膜的厚度和多層膜（如各種薄膜、晶圓和光學材料）可以無損或非接觸式測量。測量時間可以高速測量 1 秒/點。此外，它配備了一個軟件，即使是初學者可以很容易地分析光學常數。
塔瑪薩崎Otsuka大塚光度計

固體激光器和高靈敏度探測器（冷卻光電倍增管）可用于測量 0.5nm 至 5000nm 顆粒的顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布）。
塔瑪薩崎Otsuka大塚光度計

使用靜態光散射法測量**分子量、慣性半徑和**維系數是可能的。
塔瑪薩崎Otsuka大塚光度計

使用動態光散射法測量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布），并使用靜態光散射方法測量**分子量、慣性半徑和**維真實系數。
塔瑪薩崎Otsuka大塚分析儀器

特點 ■納米SAQLA的特點一臺儀器可輕松連續測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現多個樣本的連續測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。支持從稀釋到厚系統標準測量時間 1 分鐘的高速測量自動調整從厚系統到稀薄樣品的*佳測量位置，實現約 1 分鐘的高速測量簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可開始測量），無需復雜的操作內置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔，每個細胞都是獨立的，因此無需擔心不成問題。配備溫度梯度功能，可輕松設置溫度 ■AS50的特點連續測量多達 50 個樣本即使在測量過程中也能添加樣品樣品集簡單方便（*多可批量更換 50 個樣品）有機溶劑兼容（玻璃一次性電池）樣品容量 *小 0.4ml
塔瑪薩崎Otsuka大塚電位儀

該裝置可用于用稀釋溶液到濃縮溶液測量Zeta電位。測量電滲透流，使用*小容量為 130μL 的一次性電池進行測量，可實現高精度 Zeta 電位測量。此外，在0~90°C的寬溫度范圍內，可以進行自動溫度梯度測量的改性和相變溫度分析。
塔瑪薩崎Otsuka大塚澤塔電位儀

除了使用傳統稀釋溶液和濃縮溶液測量Zeta電位和顆粒直徑外，該裝置還能夠測量分子量。對應于顆粒大小測量范圍（0.6nm 至 10μm）和濃度范圍（0.00001% 至 40%）。測量電滲透流，使用*小容量為 130μL 的一次性電池進行測量，可實現高精度 Zeta 電位測量。此外，在0~90°C的寬溫度范圍內，可以進行自動溫度梯度測量的改性和相變溫度分析。
塔瑪薩崎Otsuka大塚澤塔電位儀

[通過光散射評估物理性能在 ELSZneo 中進入一個新的階段] 除了在 ELSZseries 的**型號上用稀釋溶液到濃縮溶液測量 Zeta 電位和顆粒直徑外，該裝置還允許分子量測量。作為一項新功能，我們采用了多角度測量，以提高顆粒大小分布的分離能力。此外，還可以進行顆粒濃度測量、微流變測量和凝膠網絡結構分析。新開發的 Zeta 電位平板電池單元采用新開發的高鹽濃度涂層，可在高鹽濃度環境中（如鹽水）進行測量。我們還推出了超微量電池單元，可在 3μL 下測量顆粒大小，為生命科學領域擴展了可能性。
tokisangyo東機產業BII型粘度計

自1953年銷售以來，無論是在科研領域、生產現場，還是在品質管理等各類需要測定粘度的場所，B-II型粘度計都是客戶的愛用機型，也是粘度計的代表機型。特點 ◆ 擁有從低粘度至高粘度的寬廣測定量程 ◆ 接觸液體部分的材料是SUS304/303型不銹鋼 ◆ 適合測定非牛頓型液體的流動特征 ◆ 輝煌的銷售業績蓄積了豐富的專業知識和經驗
OTSUKA大塚電子 zeta 電位儀

除了常規的 zeta 電位和粒度測量外，它是一種可以測量分子量的設備，可通過稀溶液至濃溶液進行測量。支持粒度測量范圍（0.6 nm 至 10 μm）和濃度范圍（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量為 130 μL 或更大的一次性樣品池進行測量，通過實際測量電滲流來實現高精度的 zeta 電位測量。此外，通過在0～90°C的寬溫度范圍內進行自動溫度梯度測量，可以進行變性/相變溫度分析。
OPTM-A3_OPTM顯微分光膜厚儀_Otsuka大塚

頭部集成了薄膜厚度測量所需功能通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層膜厚度，光學常數） 1點1秒高速測量顯微分光下廣范圍的光學系統（紫外至近紅外）區域傳感器的**機制易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數分析獨立測量頭對應各種inline客制化需求支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots

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